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DIN 51001 Bb.1-2003 氧化原材料和基础材料测试.X射线荧光法(XRF)测试通用基础.XRF试样测定用材料分组方法总则

时间:2024-05-14 16:17:11 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:8249
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【英文标准名称】:Testingofoxidicrawmaterialsandbasicmaterials-GeneralbasesofworkforX-rayfluorescencemethod(XRF)-GeneralsurveyondisintegrationmethodsreferredtogroupsofmaterialsforthedeterminationoftestspecimensforXRF
【原文标准名称】:氧化原材料和基础材料测试.X射线荧光法(XRF)测试通用基础.XRF试样测定用材料分组方法总则
【标准号】:DIN51001Bb.1-2003
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2003-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:耐火材料;陶瓷;分解法;X射线荧光光谱法;材料试验;X射线分析;分解;氧化物;原材料;粘合剂;材料;试验
【英文主题词】:Bindingagents;Ceramics;Disintegration;Disintegrationmethod;Materials;Materialstesting;Oxides;Rawmaterials;Refractorymaterials;Testing;X-rayanalysis;X-rayfluorescencespectrometry
【摘要】:
【中国标准分类号】:G13
【国际标准分类号】:71_060_20
【页数】:7P.;A4
【正文语种】:德语


基本信息
标准名称:银氧化镉电触头材料化学分析方法
中标分类: 电工 >> 电工材料和通用零件 >> 电工合金零件
替代情况:替代JB 4107.3-1985;被JB/T 7776.5-2008代替
发布部门:中华人民共和国机械工业部
发布日期:1995-10-09
实施日期:1996-01-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:2008-09-01
提出单位:机械工业部桂林电器科学研究所
归口单位:机械工业部桂林电器科学研究所
起草单位:国营六一五厂
起草人:王恩黎、曹兵、张焕文、邢桂珍
出版社:机械工业出版社
出版日期:1996-01-01
页数:3 页
适用范围

本标准规定了银氧化镉电触头材料中镁量的测定方法。
本标准适用于银氧化镉电触头材料中镁量的测定方法。测定范围:0.010%~0.050%。

前言

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所属分类: 电工 电工材料和通用零件 电工合金零件
【英文标准名称】:SignallingProtocolsandSwitching(SPS)-VinterfacesatthedigitalLocalExchange(LE);V5.1interfaceforthesupportofAccessNetwork(AN)-Part3:TestSuiteStructureandTestPurposes(TSS&TP)specificationforthenetworklayer(ANside);Engl
【原文标准名称】:信号发送和中继技术.数字固定中继站的V型接口.支持控制通道网的V.51接口.第3部分:中继技术(通道网层)用检验序列结构和检验目的(TSS&TP)
【标准号】:DINETS300324-3-1996
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1996-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:信号传输;信号发送系统;规范(验收);数据网络;定义;电气工程;电信;接口;界面;通信网;电话系统;结构;传输协议;电路网络;交换技术;网络层
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:M14
【国际标准分类号】:35_100_30;33_040_40;35_200
【页数】:56P;A4
【正文语种】:德语